三星 HBM4E 可靠性测试良率突破 70%，D1d DRAM 目标 11 月通过 PRA

三星 CTO Song Jai Hyuk 在内部高管简报会上透露，HBM4E 可靠性测试良率已提升至 70% 以上，研发步入稳定轨道。三星今年 2 月率先量产 HBM4，5 月 29 日公布 12 层堆叠 HBM4E 规格并向主要客户送样，HBM4E 计划用于英伟达明年推出的 Vera Rubin Ultra。